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福 州 大 学
2017 年博士研究生入学考试专业课课程(考试)大纲
一、考试科目名称: 材料科学与工程综合
二、招生学院和专业:材料科学与工程学院
材料物理与化学、材料学、材料加工工程
基本内容:
本科目分为三个模块:1、材料结构;2、波谱分析;3、固体物理 B。学生可选择任一模块
考试。
1、材料结构模块
X 射线衍射分析
物相衍射分析与点阵参数的精确测定:定性、定量分析原理、方法与步骤,点阵参数的精确
测定;X 射线衍射谱的线形分析; Rietveld 精修与从头晶体结构测定;Rietveld 方法的相定量
分析(多相全谱拟合);宏观应力的 X 射线衍射测定与分析;织构与极图的测定;薄膜和一维
材料的X射线衍射分析;小角 X射线散射(SAXS)和小角衍射;扩展X 射线吸收精细结构(EXAFS)
谱分析。
TEM 电子衍射
倒易点阵,倒易矢量及其基本性质;正点阵与倒点阵的指数互换;晶带定律与 0 层倒易截
面;Bragg 定律及其几何图解;偏离参量;倒易点阵与电子衍射图的关系;电子衍射的基本公
式;单晶、多晶衍射花样形成原理;点阵结构因数的计算;系统消光;倒易点阵的类型;单晶
与多晶电子衍射图的分析及标定;晶体的复杂衍射花样分析;两相取向关系的测定与分析。
TEM 成像
TEM 中成像的像衬度类型与原理(质厚衬度、衍射衬度、Z 衬度及其技术、相位衬度);
晶体薄膜的衍射衬度强度理论;缺陷(位错、层错、第二相等)衬度的定性与定量分析;材料
的界面及其分析方法:两相界面衬度,包括应变衬度、错配位错、位移条纹、波纹图;弱束暗
场成像技术;高分辨电子显微学相位衬度像的成像原理、成像过程、显微图像的类型和应用。
SEM 与 EPMA 分析
电子束与样品相互作用产生的主要物理信号、特征及应用;成像原理、二次电子与背散射
电子像衬度与分辨率;电子背散射衍射与应用;X 射线显微成分分析技术与方法。
2、波谱分析模块
紫外光谱
紫外-可见吸收光谱的基本原理;影响紫外-可见吸收光谱的主要因素;光吸收定律;紫外-
可见吸收光谱在定性和定量中的应用;各类有机化合物的特征吸收;紫外-可见光谱的解析及应
用。
红外光谱
红外吸收光谱产生的条件;影响峰位的主要因素;红外吸收光谱的重要区域;各类有机化
合物的红外特征吸收;红外光谱的解析和应用。
核磁共振光谱
核自旋和核磁共振现象;化学位移的产生和影响化学位移的因素;谱图中积分曲线与氢数
目;饱和和驰豫;自旋偶合与裂分;偶合常数;偶合系统的核磁特征谱图;常见有机化合物氢
谱的解析。
质谱
质谱的基本方程;质谱表示法;质谱仪的构造;质谱中离子类型;离子的断裂机理;离子
源的种类;质谱中分子离子峰和碎片离子峰;常见的裂解方式;各类有机化合物的质谱特征及
解析。
有机化合物的四谱综合解析
3、固体物理 B 模块
金属电子论。费米统计和电子热容;功函数和接触电势;分布函数与玻尔兹曼方程;各项
同性散射和弛豫时间;晶格散射与电导;金属-绝缘体转变。
半导体电子论。常见半导体的晶体结构和基本能带结构;半导体中的电子状态;半导体中
的杂质及杂质能级;半导体中载流子的统计分布;半导体的电导;非平衡载流子;PN 结。
参考书目 (包括作者、书目、出版社、出版时间、版次):
1、材料结构模块
(1) 周玉主编,材料分析方法,机械工业出版社,2011,第 3 版.
(2) 黄孝瑛. 材料微观结构的电子显微学分析. 冶金工业出版社,2008,第 1 版.
(3) 晋勇, 孙小松, 薛屺. X 射线衍射分析技术. 北京: 国防工业出版社,2008,第 1 版.
(4) 姜传海, 杨传铮. 材料射线衍射和散射分析. 高等教育出版社, 2010,第 1 版.
2、波谱分析模块
(1). 孟令芝,龚淑玲,何永炳. 有机波谱分析. 武汉大学出版社, 2009 年, 第 3 版.
(2). 林贤福. 现代波谱分析方法. 华东理工大学出版社, 2009 年, 第 1 版.
(3). 邓芹英, 刘岚, 邓慧敏. 波谱分析教程. 科学出版社, 2010 年, 第 2 版.
(4). 张华,彭勤纪,李亚明等. 现代有机波谱分析, 化学工业出版社, 2005, 第 1 版.
3、固体物理 B 模块
(1) 黄昆 原著,韩汝琦 改编.《固体物理学》. 高等教育出版社,1988 年 10 月出版(2013 年 12 月重印).
(2) 刘恩科, 朱秉升, 罗晋生 编著. 半导体物理 (第七版). 电子工业出版社,2011 年.
说明:考试题型可分名词解释、填空题、选择题、计算题、简答题、论述题等。
编制人签名: 博士点负责人签名: 院长审核签名:
年 月 日

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